HVS-1000 維氏顯微硬度計機臺說明：

HVS-1000 維氏顯微硬度計是光、機、電一體化的產品。該儀器造型新穎、美觀，是普及型顯微硬度計的升級換代產品。該機采用計算機軟件編程，高倍率光學測量系統，光電傳感等技術。通過軟鍵輸入，能調節測量光源強弱，預置試驗力保持時間、維、努氏試驗方法切換。在軟鍵面板上的LCD顯示屏能顯示試驗方式、試驗力、測量壓痕長度、硬度值、試驗力保持時間、測量次數并能鍵入年、月、日期，試驗結果通過打印機輸出。

    HVS-1000 還(huan)可選配有攝影裝置，能對所(suo)測(ce)壓痕和(he)材料金相(xiang)組(zu)織進行拍攝。適(shi)用于測(ce)定微(wei)(wei)小、薄(bo)形試件，表面滲鍍層等試件的顯(xian)微(wei)(wei)硬度(du)和(he)測(ce)定玻璃、陶瓷等脆性材料的顯(xian)微(wei)(wei)硬度(du)。

產品(pin)特點：

視(shi)頻測量維氏(shi)硬度(du)(du)計，是在維氏(shi)硬度(du)(du)計主(zhu)機上，加配(pei)視(shi)頻測量裝置(zhi)的(de)新一(yi)代顯(xian)微硬度(du)(du)計。配(pei)備視(shi)頻測量裝置(zhi)后，是原來在硬度(du)(du)計目鏡(jing)上顯(xian)示(shi)的(de)壓(ya)痕直(zhi)接顯(xian)示(shi)在液晶顯(xian)示(shi)器上。工作過程(cheng)更直(zhi)觀，測量更精(jing)確(que)。CCD圖像(xiang)處理系統自動完(wan)成壓(ya)痕對角線測量、硬度(du)(du)值(zhi)顯(xian)示(shi)，并將當前試驗數據及圖像(xiang)保存

一(yi)(yi)次性進行多點的(de)試(shi)驗(yan)（任意設(she)置試(shi)驗(yan)點間距(ju)），作為一(yi)(yi)組試(shi)驗(yan)數據保存。各種(zhong)硬度值轉換(huan)。

應用及范圍(wei)：

滲碳層、陶瓷、鋼(gang)、有色金屬(shu)；薄板、金屬(shu)薄片、電鍍層、微小試(shi)件；

氮化層(ceng)、滲碳層(ceng)和淬火硬化層(ceng)梯(ti)度(du)測量；適(shi)用于平行平面(mian)和微(wei)小零(ling)件(jian)及超薄零(ling)件(jian)的精密維氏硬度(du)測量。

主要參數：

1. 測量范圍：5-3000HV
2. 試驗力：0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807N

          （10、25、50、100、200、300、500、1000gf)

1. 試(shi)樣允許zui大高度：90mm；
2. 壓頭中心至(zhi)機壁距離：120mm；
3. 測量系(xi)統放大(da)倍率：400X,100X；
4. 外(wai)形尺(chi)寸：530*290*490mm；
5. 電源：AC220V,50/60Hz；
6. 重量：40kg。

打印輸(shu)出形式：

報告式、梯度圖(tu)式

在Word界(jie)面下，自(zi)行(xing)編制報告輸出格式

根(gen)據硬度(du)計的(de)校準，用戶(hu)可隨時(shi)對所測硬度(du)值的(de)準確(que)性進行調(diao)整。

附件(jian)箱標配：

1. 座標試(shi)臺(tai)、細軸試(shi)臺(tai)、薄(bo)片試(shi)臺(tai)、小平口鉗試(shi)臺(tai)：各1個；
2. 大(da)V型塊、小V型塊：各1個；
3. 金剛石四棱錐壓頭(tou)：1只；
4. 標準(zhun)顯(xian)微硬度塊(kuai)：2塊(kuai)。
5. 測試電腦：1套；
6. 攝(she)像頭：1只；
7. 采集(ji)卡：1個；